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高光譜成像技術是基于非常多窄波段的影像數(shù)據(jù)技術，它將成像技術與光譜技術相結合，探測目標的二維幾何空間及一維光譜信息，獲取高光譜分辨率的連續(xù)、窄波段的圖像數(shù)據(jù)。高光譜成像技術發(fā)展迅速，常見的包括光柵分光、聲光可調(diào)諧濾波分光、棱鏡分光、芯片鍍膜等?？梢詰迷谑称钒踩?、醫(yī)學診斷、航天領域等領域。高光譜圖像的特點：特征空間位數(shù)高，數(shù)據(jù)相關性強，冗余度高，運算時間長要求的訓練樣本多可用于分類的特征多，既包括直接光譜向量，還可以計算光譜洗手指數(shù)，導數(shù)光譜，紋理特征，形狀特征等派生特征圖像...

巖礦分析系統(tǒng)是一種測試鏡質(zhì)體反射率和煤品分析系統(tǒng)。該系統(tǒng)自動化程度高，所有操作可在一套軟件上完成，測量方式可滿足國家標準；只需一次定標，就可測算出視野范圍內(nèi)任意位置的鏡質(zhì)體反射率，提高了測量效率。巖礦及巖石礦物是一種存在在巖石物質(zhì)內(nèi)部，經(jīng)過長期自然因素的相互影響和相互作用形成的天然產(chǎn)物，也被稱之為自然聚合體。巖石礦物不存在與普通巖石中，通常在地殼內(nèi)，由單一或復雜的化學元素構成。由于巖礦的構成元素較多，這些組成元素之間又能進行相互作用、隨意組合，因此巖礦物質(zhì)具備明顯的多樣性的特...

煤巖分析系統(tǒng)的數(shù)據(jù)分析模塊我們增加了判斷單種煤煤巖成分組成的方法，利用該判斷方法可以得到煤巖組成含量(鏡質(zhì)組、惰質(zhì)組、穩(wěn)定組)。單種煤的鏡質(zhì)組反射率表現(xiàn)為一個正態(tài)的分布，在全組分反射率累計直方圖一定區(qū)域內(nèi)它是一條直線，所以煤巖組分百分含量可以用在全組分反射率累計直方圖中鏡質(zhì)組反射率分布范圍內(nèi)的擬合直線與前后兩條斜率不同曲線的擬合直線的交點來確定。先根據(jù)鏡質(zhì)組反射率的方差進行測定該煤樣是單種煤或者混合煤。當方差小丁0.12時，煤樣被判別為單種煤，用上述方法判斷煤巖組分，反之，則...

X射線衍射儀是礦物學研究領域內(nèi)的主要儀器,用于對結晶物質(zhì)的定性和定量分析，還可確定類質(zhì)同象混晶（固溶體）的成分，有限固溶體的固溶極限，區(qū)分晶質(zhì)和非晶質(zhì)結構的變化。測定晶體的有序－無序結構及其有序度，以及粘土礦物的混層結構等。工作原理：粉末樣品經(jīng)一束平行的單色X射線垂直照射后，產(chǎn)生一組以入射線為軸的同軸反射圓錐面族，計數(shù)管繞樣品旋轉(zhuǎn),依次測量各反射圓錐面2θ角（即衍射角，又稱布喇格角）位置的衍射線強度，即可獲得表征物相的各種衍射數(shù)據(jù)，從而進行物相鑒定和晶體結構的研究。注意事項：...

超高壓XRD是研究物質(zhì)的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(zhì)(晶體或非晶體)進行衍射分析時，該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象，物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子的構型、構象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生*的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關晶體完整性的大量信息等優(yōu)點。因此，X射線衍射分析法作為材料結構和成分分析的一種現(xiàn)代科學方法，已逐步在各學科研究和生產(chǎn)中廣泛應用。x射線的波長和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵...

巖礦的成分測定與分析是地質(zhì)工作的一個重要組成部分，它的研究對象主要是天然礦產(chǎn)，如巖石、礦物等；主要任務是利用一些技術手段(儀器分析、化學分析等)，對礦物巖石的成分在不同賦存狀態(tài)下的含量及其化學組成進行測定與分析。巖礦成分的測定與分析工作具有重要的意義，如何快速準確的發(fā)現(xiàn)巖礦并給與正確的評價，是廣大地質(zhì)工作者的首要任務?？梢哉f，巖礦分析系統(tǒng)與分析工作與我國的社會主義現(xiàn)代化建設有著密不可分的聯(lián)系。巖礦分析系統(tǒng)的基本流程：1.1試樣的加工制作實際用于測定分析的試樣一般只需要幾克，因...

普通掃描電鏡的電子槍發(fā)射出電子束，電子在電場的作用下加速，經(jīng)過兩三個電磁聚光鏡后在樣品表面聚焦成極細的電子束。該細小的電子束在末透鏡的上方的雙偏轉(zhuǎn)線圈作用下在樣品表面進行掃描，被加速的電子到達樣品的表面，樣品原子的外層電子受激發(fā)離開樣品形成二次電子被探測器俘獲后轉(zhuǎn)化成的信號，在顯像管熒光屏上形成的圖像亮點即掃描電鏡圖像，圖像與樣品表面形態(tài)有密切的關系。如二次電子，背散射電子，吸收電子、X射線、俄歇電子、陰極發(fā)光等。這些信號被按順序、成比例的交換成視頻信號、檢測放大處理成像，從...