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3-12
臺(tái)式掃描電鏡在觀(guān)察照射物體的細(xì)電子束掃描時(shí),觀(guān)察的三維結(jié)構(gòu)的表面(形狀)。一般來(lái)說(shuō),用掃描電鏡是一個(gè)單向觀(guān)察圖像,使圖像是相同的圖像平面與單眼觀(guān)察。為了得到一個(gè)三維圖像,該方法是通過(guò)傾斜的載體,從不同的角度分別獲得同等的右眼和左眼觀(guān)察觀(guān)察靜止圖像(視差圖像)和合成,所以戴上紅藍(lán)眼鏡。但這種方法需要時(shí)間,也需要調(diào)整視差圖像,所以它不能實(shí)時(shí)觀(guān)察樣品的掃描電鏡圖像。這時(shí)發(fā)達(dá)的邊緣交換機(jī)照射試樣的電子束角和高速掃描技術(shù),成功實(shí)現(xiàn)了左右視差圖像瞬時(shí)訪(fǎng)問(wèn)。具體做法使用電磁透鏡的會(huì)聚作用,...
1-15
X射線(xiàn)衍射儀XRD是傳統(tǒng)X射線(xiàn)粉末衍射儀的優(yōu)化版,通過(guò)成熟的工藝技術(shù),配合LaueCamera801/802,可實(shí)現(xiàn)對(duì)單晶樣品的高精度測(cè)量。X射線(xiàn)衍射儀XRD的信號(hào)檢測(cè)系統(tǒng)常用的X射線(xiàn)衍射信號(hào)檢測(cè)手段如下:1.熒光板熒光板是將ZnS、CdS等熒光材料涂布在紙板上制成,當(dāng)X射線(xiàn)信號(hào)照射到熒光板上時(shí),熒光板就會(huì)發(fā)出熒光。常用熒光板來(lái)確認(rèn)光源產(chǎn)生的原射線(xiàn)束的存在,主要用于儀器零點(diǎn)的調(diào)試。2.照相方法照相法是早使用的檢測(cè)并記錄X射線(xiàn)的方法,直到現(xiàn)在仍被采用。X射線(xiàn)與可見(jiàn)光一樣,能夠使...
1-8
微觀(guān)觀(guān)測(cè)的發(fā)展產(chǎn)生了掃描電鏡,掃描電鏡將微觀(guān)世界的清晰度從“標(biāo)清”調(diào)到了“超清”,解決了地質(zhì)微觀(guān)領(lǐng)域的瓶頸。現(xiàn)階段掃描電鏡在巖石學(xué)、礦物學(xué)、古生物學(xué)、礦石加工和回收利用、石油與天然氣等領(lǐng)域已經(jīng)成為一項(xiàng)*的科研“利器”。掃描電鏡的日常養(yǎng)護(hù)規(guī)定:1.保持儀器操作臺(tái)面整潔,不允許身體倚靠,冷水機(jī)等裝置不可放置重物;2.開(kāi)機(jī)時(shí)一定要先開(kāi)水冷系統(tǒng),并要檢查冷卻水的溫度,關(guān)機(jī)至少15分鐘后才能關(guān)閉冷卻水;3.進(jìn)樣品時(shí),檢查Z軸和T軸的位置.緩緩關(guān)閉樣品室,確保進(jìn)樣倉(cāng)門(mén)*關(guān)閉,才可進(jìn)行抽氣...
12-12
早期的臺(tái)式電鏡僅可以分析直徑不超過(guò)25mm的樣品,但是新型臺(tái)式電鏡能夠容納直徑達(dá)60mm、高度達(dá)45mm的樣品,并允許操作人員控制樣品臺(tái)的移動(dòng)和旋轉(zhuǎn)。這些特征使臺(tái)式電鏡的分析范圍更廣,可獲取高分辨率圖像,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米顆粒、制藥、生物醫(yī)學(xué)、食品藥品、紡織纖維、地質(zhì)科學(xué)等諸多領(lǐng)域。臺(tái)式電鏡還可以被用來(lái)分析半導(dǎo)體及電子產(chǎn)品中的各種成分,并可以進(jìn)行生命科學(xué)樣品各種特征的研究;還可以用在科學(xué)館,中小學(xué)校教育機(jī)構(gòu)等領(lǐng)域。臺(tái)式電鏡的應(yīng)用領(lǐng)域逐漸變得越來(lái)越多?;蛟S剛剛開(kāi)始使用臺(tái)式...
12-4
臺(tái)式電鏡主要用于各類(lèi)微觀(guān)樣品表面形貌、組織結(jié)構(gòu)進(jìn)行快速檢測(cè)以及其元素成份分析,具有高低真空成像模式??蓪?duì)金屬和其他導(dǎo)體以及作導(dǎo)電噴涂處理后的樣品采用高真空模式成像。對(duì)未經(jīng)導(dǎo)電噴鍍處理的非導(dǎo)電樣品可進(jìn)行原始狀態(tài)下的觀(guān)察,并保持樣品的原始形貌,得到真正的表面形貌。對(duì)含水量較高的樣品,可以在冷凍輔助下觀(guān)測(cè)形貌。配備能譜分析,可以對(duì)微區(qū)元素定性定量分析。配備離子濺射儀,可滿(mǎn)足無(wú)導(dǎo)電物質(zhì)噴濺需求。臺(tái)式電鏡的制樣流程分析:一、觀(guān)察形貌的塊狀樣品制備清洗(干燥→吹掉浮粉)→固定→導(dǎo)電處理。...
11-13
場(chǎng)發(fā)射電鏡的電子發(fā)射源為冷場(chǎng),物鏡為半浸沒(méi)式,可利用二次電子、背散射電子信號(hào)成像來(lái)觀(guān)察樣品表面形態(tài)。在高加速電壓下,二次電子圖像分辨率為1nm,背散射電子圖像分辨率3.0nm。在低加速電壓下,二次電子圖像分辨率為2nm,有利于觀(guān)察絕緣或?qū)щ娦圆畹臉悠贰?chǎng)發(fā)射電鏡配置的主要附件為X射線(xiàn)能譜儀,利用該附件可以在觀(guān)察樣品表面微觀(guān)形貌的同時(shí)進(jìn)行微區(qū)成分定性和半定量以及元素分布分析。針對(duì)不導(dǎo)電樣品,配置高分辨磁控離子濺射儀,可以準(zhǔn)確地為樣品噴鍍厚度均勻的導(dǎo)電膜,從而實(shí)現(xiàn)該類(lèi)樣品的電鏡分...
11-9
SEM掃描電鏡從原理上講,照明體系與透射電子顯微鏡中的類(lèi)似。但不一樣的是掃描電鏡有一些獨(dú)*需求,例如經(jīng)聚光鏡作用后抵達(dá)樣品處的電子束應(yīng)是直徑很細(xì)的電子探針;電子束能作掃描運(yùn)動(dòng);末級(jí)聚光鏡的計(jì)劃應(yīng)便于信號(hào)的搜集等。SEM掃描電鏡的三類(lèi)電子講解:1.二次電子是指背入射電子轟擊出來(lái)的核外電子。由于原子核和外層價(jià)電子間的結(jié)合能很小,當(dāng)原子的核外電子從入射電子獲得了大于相應(yīng)的結(jié)合能的能量后,可脫離原子成為自由電子。如果這種散射過(guò)程發(fā)生在比較接近樣品表層處,那些能量大于材料逸出功的自由電...
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