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傳統(tǒng)煤巖組分測試采用人眼識別和手工測試相結(jié)合的測試方法，存在測試效率低、操作人員易疲勞、煤巖組分識別主觀性強(qiáng)、測試過程不可追溯、測試人員鑒定水平提高慢、測試結(jié)果難以走向?qū)嶋H應(yīng)用等問題。以光度計(jì)為基礎(chǔ)的自動測試僅能獲取反射率參數(shù)，因而也僅能利用反射率進(jìn)行組分識別，忽略了樣品的均勻程度、各向異性、光照條件及焦距均對測試所造成的較大影響。煤巖分析系統(tǒng)基于數(shù)字圖像處理技術(shù)（DIP技術(shù)），測試圖像可存儲、測試結(jié)果可追溯，屬于真正的圖像分析法，能得到測點(diǎn)位置、組分形態(tài)學(xué)或幾何學(xué)參數(shù)，具有...

原子力顯微鏡是一種可用來研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個(gè)微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質(zhì)的表面結(jié)構(gòu)及性質(zhì)。將一對微弱力敏感的微懸臂一端固定，另一端的微小針尖接近樣品，這時(shí)它將與其相互作用，作用力將使得微懸臂發(fā)生形變或運(yùn)動狀態(tài)發(fā)生變化。掃描樣品時(shí)，利用傳感器檢測這些變化，就可獲得作用力分布信息，從而以納米級分辨率獲得表面形貌結(jié)構(gòu)信息及表面粗糙度信息。優(yōu)點(diǎn)：相對于掃描電子顯微鏡，原子力顯微鏡具有許多優(yōu)點(diǎn)。不同于電子...

單頻激光器，即單縱模激光器，它的特點(diǎn)是輸出的激光模式既滿足單橫模又滿足單縱模，其諧振腔內(nèi)部只有單一縱模進(jìn)行震蕩，并且輸出光強(qiáng)呈現(xiàn)高斯分布。除了激光本身良好的單色性和方向性外，單頻激光器擁有普通激光器難以達(dá)到的相干長度長、譜線寬度窄的特點(diǎn)。目前，單頻激光器主要用于分布式光纖聲波傳感系統(tǒng)、周界安全、用于相干激光雷達(dá)系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)高精度的成像、速度和距離的遙感探測。此外，石油和天然氣勘探系統(tǒng)、管道監(jiān)控、氣體泄漏檢測、冷原子物理、空間激光通信以及微波光子學(xué)等領(lǐng)域，單頻激光器也將發(fā)揮重要作用...

SEM掃描電鏡是利用電子束代替可見光作為探針，利用電磁透鏡代替光學(xué)透鏡聚集和控制電子束，聚集電子束在樣品上掃描，激發(fā)某種物理信號來調(diào)制一個(gè)同步掃描的顯像管在相應(yīng)位置的亮度而成像。SEM的電子槍發(fā)出的電子束經(jīng)過柵極靜電聚焦成點(diǎn)光源，然后在加速電壓的作用下經(jīng)過光學(xué)電子系統(tǒng)匯聚成直徑幾納米的電子束聚焦到樣品的表面，在末級透鏡上掃描線圈的作用下，電子束在樣品的表面掃描。由于高能電子束與試樣物質(zhì)發(fā)生相互作用產(chǎn)生各種信號，如二次電子、背散射電子、吸收電子、X射線、俄歇電子等，經(jīng)接收器、放...

光電探測器是指把光輻射轉(zhuǎn)換成電量（I或V）的器件。利用將光輻射信號轉(zhuǎn)換成電信號以進(jìn)行顯示或控制的功能，光探測器不僅可以代替人眼，而且由于其光譜響應(yīng)范圍寬，更是人眼的延伸。光電探測器的原理是由輻射引起被照射材料電導(dǎo)率發(fā)生改變。光電探測器在軍事和國民經(jīng)濟(jì)的各個(gè)領(lǐng)域有廣泛用途。在可見光或近紅外波段主要用于射線測量和探測、工業(yè)自動控制、光度計(jì)量等；在紅外波段主要用于紅外熱成像、紅外遙感等方面。使用中如何才能使光電探測器保持最佳工作狀態(tài)呢？①光電探測器必須和輻射信號源及光學(xué)系統(tǒng)在光譜特...

X射線粉末衍射儀適用性很廣，通常用于測量粉末、單晶或多晶體等塊體材料，并擁有檢測快速、操作簡單、數(shù)據(jù)處理方便等優(yōu)點(diǎn)。X射線是一種電磁波,入射到晶體時(shí)在晶體中產(chǎn)生周期性變化的電磁場。引起原子中的電子和原子核振動,因原子核的質(zhì)量很大振動忽略不計(jì)。振動著的電子是次生X射線的波源,其波長、周相與入射光相同?；诰w結(jié)構(gòu)的周期性,晶體中各個(gè)電子的散射波相互干涉相互疊加,稱之為衍射。散射波周相一致相互加強(qiáng)的方向稱衍射方向,產(chǎn)生衍射線。X射線粉末衍射儀的應(yīng)用介紹：1，判斷物質(zhì)是否為晶體。2...

偏光顯微鏡是利用光的偏振特性對具有雙折射性物質(zhì)進(jìn)行研究鑒定的儀器,可做單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察。將普通光改變?yōu)槠窆膺M(jìn)行鏡檢的方法，以鑒別某一物質(zhì)是單折射（各向同行）或雙折射性（各向異性）。偏光顯微鏡廣泛地應(yīng)用于礦物、晶體等各種具有雙折射性偏光物質(zhì)的觀察、研究和鑒別。是研究物質(zhì)的結(jié)構(gòu)常用的物理方法之一，適用于巖石薄片、玻璃、陶瓷、塑料、高分子材料等多種樣品的偏光特性高級觀察分析。偏光顯微鏡調(diào)焦裝置的使用方法：①粗動調(diào)焦控制由位于架身兩側(cè)的粗動手輪實(shí)現(xiàn)，微動調(diào)焦則由同...