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X射線衍射儀XRD由X射線源、樣品支架、衍射器、探測(cè)器等組成。首先，通過(guò)X射線源產(chǎn)生的X射線束照射到樣品上。樣品中的晶體對(duì)X射線進(jìn)行衍射，產(chǎn)生衍射圖樣。在衍射器的作用下，衍射圖樣被分散成不同入射角度的X射線。探測(cè)器記錄不同入射角度的X射線強(qiáng)度，形成衍射譜。其工作原理是基于布拉格法則。根據(jù)布拉格法則，晶體對(duì)X射線的衍射滿足2dsinθ=λ，其中d是晶格常數(shù)，θ是入射角，λ是X射線的波長(zhǎng)。通過(guò)測(cè)量衍射角度θ和已知的波長(zhǎng)λ，可以計(jì)算出晶格常數(shù)d。進(jìn)一步的計(jì)算和分析可以得到晶體的結(jié)構(gòu)...

煤巖分析系統(tǒng)是利用現(xiàn)代化的儀器設(shè)備對(duì)煤炭樣品進(jìn)行分析，可以得到煤的組成、含量等多種信息。它主要包括煤質(zhì)分析、煤巖組分及微量元素分析等幾個(gè)方面。其中，煤質(zhì)分析是對(duì)煤的質(zhì)量特性進(jìn)行綜合評(píng)價(jià)，包括煤的水分、灰分、揮發(fā)分、固定碳等指標(biāo)；煤巖組分分析主要是確定煤中各種有機(jī)組分及無(wú)機(jī)組分的含量；微量元素分析則是對(duì)煤中微量元素的含量進(jìn)行分析。其工作原理是基于化學(xué)分析和物理分析的方法。首先，對(duì)待測(cè)樣品進(jìn)行樣品制備，去除雜質(zhì)，并將樣品研磨成適合分析的細(xì)粉。然后，通過(guò)物理分析方法，如X射線衍射、...

普通掃描電鏡(SEM)是一種能夠觀察物質(zhì)表面形貌、結(jié)構(gòu)和成分的高性能顯微鏡。它采用高能電子束與樣品表面相互作用，通過(guò)探針控制和信號(hào)放大器對(duì)來(lái)自樣品不同區(qū)域的電子反射、散射、輻射等信號(hào)進(jìn)行分析處理，從而獲得高分辨率的圖像。其原理主要包括兩個(gè)方面：高能電子束和信號(hào)檢測(cè)系統(tǒng)。高能電子束是SEM的核心部件，它由電子槍、聚焦系統(tǒng)、透鏡和樣品臺(tái)組成。電子束從電子槍發(fā)射出，經(jīng)過(guò)聚焦系統(tǒng)和透鏡聚焦成小的電子束照射到樣品表面上。由于電子束能量很高，當(dāng)它與樣品表面相互作用時(shí)，可產(chǎn)生多種電子信號(hào)，...

超高壓XRD是指在高溫和高壓的環(huán)境下使用X射線衍射技術(shù)研究材料的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)的一種方法，常用于地球和材料科學(xué)研究中。主要通過(guò)四個(gè)步驟來(lái)實(shí)現(xiàn)：樣品制備、高溫和高壓處理、X射線探測(cè)和數(shù)據(jù)分析。1.需要制備高質(zhì)量的樣品。這是非常重要的一步，因?yàn)橹挥袠悠返慕M成、純度和晶體結(jié)構(gòu)非常規(guī)范，才能保證分析結(jié)果的可靠性。制備好樣品之后，需要使用高溫高壓設(shè)備對(duì)其進(jìn)行處理。2.利用高溫高壓設(shè)備，可以模擬地球內(nèi)部或是其他惡劣環(huán)境下的條件，使得材料處于高壓和高溫的狀態(tài)下，產(chǎn)生新的物理和化學(xué)反應(yīng)。這樣可以...

巖礦分析系統(tǒng)是一種用于分析巖石、礦物等樣品成分和結(jié)構(gòu)特征的儀器。該系統(tǒng)集成了多種技術(shù)手段，如顯微鏡、激光、電子、X射線等，可實(shí)現(xiàn)多種分析方法，如顯微鏡分析、拉曼光譜分析、X射線熒光光譜分析等。一般由樣品處理設(shè)備、顯微鏡、成像系統(tǒng)、光學(xué)分析系統(tǒng)和計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)等組成。廣泛應(yīng)用于地質(zhì)勘探、礦床評(píng)估、巖石學(xué)研究、礦物學(xué)研究、材料科學(xué)等領(lǐng)域。在地質(zhì)勘探中，巖礦分析系統(tǒng)可以幫助地質(zhì)工作者確定礦物成分和化學(xué)成分，進(jìn)而評(píng)估礦床的含量、質(zhì)量、可采性等；在巖石學(xué)和礦物學(xué)研究中，巖礦分析系統(tǒng)可以...

臺(tái)式電鏡SEM(ScanningElectronMicroscope)是一種能夠觀察材料表面微觀形貌和元素成分的電子顯微鏡。它通過(guò)掃描樣品表面并利用反射出的電子來(lái)獲取樣品表面的形貌和成分信息，能夠獲得高分辨率的表面形貌圖像和元素成分分布圖像。臺(tái)式電鏡SEM主要有以下作用：1.觀察樣品表面形貌：能夠獲得高分辨率的樣品表面形貌圖像，從而使研究者可以觀察到微觀級(jí)別的表面結(jié)構(gòu)和形貌，為材料表面結(jié)構(gòu)分析提供依據(jù)。2.分析元素成分分布：能夠進(jìn)行能譜分析，可以分析樣品表面元素成分分布，并生...

臺(tái)式掃描電鏡可用于測(cè)量亞微米或納米尺度的樣品；從試表面形貌獲得多方面資料，在掃描電鏡中，不僅可以利用入射電子和試樣相互作用產(chǎn)生各種信息來(lái)成象，而且可以通過(guò)信號(hào)處理方法，獲得多種圖象的特殊顯示方法，還可以從試樣的表面形貌獲得多方面資料。因?yàn)閽呙桦娮酉蟛皇峭瑫r(shí)記錄的，它是分解為近百萬(wàn)個(gè)逐次依此記錄構(gòu)成的。因而使得高分辨率臺(tái)式掃描電鏡除了觀察表面形貌外還能進(jìn)行成分和元素的分析，以及通過(guò)電子通道花樣進(jìn)行結(jié)晶學(xué)分析，選區(qū)尺寸可以從10μm到3μm。易于管理，即使是沒(méi)有或著僅具有實(shí)驗(yàn)室基...