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煤巖分析系統(tǒng)是利用現(xiàn)代化的儀器設(shè)備對煤炭樣品進行分析，可以得到煤的組成、含量等多種信息。它主要包括煤質(zhì)分析、煤巖組分及微量元素分析等幾個方面。其中，煤質(zhì)分析是對煤的質(zhì)量特性進行綜合評價，包括煤的水分、灰分、揮發(fā)分、固定碳等指標(biāo)；煤巖組分分析主要是確定煤中各種有機組分及無機組分的含量；微量元素分析則是對煤中微量元素的含量進行分析。其工作原理是基于化學(xué)分析和物理分析的方法。首先，對待測樣品進行樣品制備，去除雜質(zhì)，并將樣品研磨成適合分析的細粉。然后，通過物理分析方法，如X射線衍射、...

普通掃描電鏡(SEM)是一種能夠觀察物質(zhì)表面形貌、結(jié)構(gòu)和成分的高性能顯微鏡。它采用高能電子束與樣品表面相互作用，通過探針控制和信號放大器對來自樣品不同區(qū)域的電子反射、散射、輻射等信號進行分析處理，從而獲得高分辨率的圖像。其原理主要包括兩個方面：高能電子束和信號檢測系統(tǒng)。高能電子束是SEM的核心部件，它由電子槍、聚焦系統(tǒng)、透鏡和樣品臺組成。電子束從電子槍發(fā)射出，經(jīng)過聚焦系統(tǒng)和透鏡聚焦成小的電子束照射到樣品表面上。由于電子束能量很高，當(dāng)它與樣品表面相互作用時，可產(chǎn)生多種電子信號，...

超高壓XRD是指在高溫和高壓的環(huán)境下使用X射線衍射技術(shù)研究材料的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)的一種方法，常用于地球和材料科學(xué)研究中。主要通過四個步驟來實現(xiàn)：樣品制備、高溫和高壓處理、X射線探測和數(shù)據(jù)分析。1.需要制備高質(zhì)量的樣品。這是非常重要的一步，因為只有樣品的組成、純度和晶體結(jié)構(gòu)非常規(guī)范，才能保證分析結(jié)果的可靠性。制備好樣品之后，需要使用高溫高壓設(shè)備對其進行處理。2.利用高溫高壓設(shè)備，可以模擬地球內(nèi)部或是其他惡劣環(huán)境下的條件，使得材料處于高壓和高溫的狀態(tài)下，產(chǎn)生新的物理和化學(xué)反應(yīng)。這樣可以...

巖礦分析系統(tǒng)是一種用于分析巖石、礦物等樣品成分和結(jié)構(gòu)特征的儀器。該系統(tǒng)集成了多種技術(shù)手段，如顯微鏡、激光、電子、X射線等，可實現(xiàn)多種分析方法，如顯微鏡分析、拉曼光譜分析、X射線熒光光譜分析等。一般由樣品處理設(shè)備、顯微鏡、成像系統(tǒng)、光學(xué)分析系統(tǒng)和計算機控制系統(tǒng)等組成。廣泛應(yīng)用于地質(zhì)勘探、礦床評估、巖石學(xué)研究、礦物學(xué)研究、材料科學(xué)等領(lǐng)域。在地質(zhì)勘探中，巖礦分析系統(tǒng)可以幫助地質(zhì)工作者確定礦物成分和化學(xué)成分，進而評估礦床的含量、質(zhì)量、可采性等；在巖石學(xué)和礦物學(xué)研究中，巖礦分析系統(tǒng)可以...

臺式電鏡SEM(ScanningElectronMicroscope)是一種能夠觀察材料表面微觀形貌和元素成分的電子顯微鏡。它通過掃描樣品表面并利用反射出的電子來獲取樣品表面的形貌和成分信息，能夠獲得高分辨率的表面形貌圖像和元素成分分布圖像。臺式電鏡SEM主要有以下作用：1.觀察樣品表面形貌：能夠獲得高分辨率的樣品表面形貌圖像，從而使研究者可以觀察到微觀級別的表面結(jié)構(gòu)和形貌，為材料表面結(jié)構(gòu)分析提供依據(jù)。2.分析元素成分分布：能夠進行能譜分析，可以分析樣品表面元素成分分布，并生...

臺式掃描電鏡可用于測量亞微米或納米尺度的樣品；從試表面形貌獲得多方面資料，在掃描電鏡中，不僅可以利用入射電子和試樣相互作用產(chǎn)生各種信息來成象，而且可以通過信號處理方法，獲得多種圖象的特殊顯示方法，還可以從試樣的表面形貌獲得多方面資料。因為掃描電子象不是同時記錄的，它是分解為近百萬個逐次依此記錄構(gòu)成的。因而使得高分辨率臺式掃描電鏡除了觀察表面形貌外還能進行成分和元素的分析，以及通過電子通道花樣進行結(jié)晶學(xué)分析，選區(qū)尺寸可以從10μm到3μm。易于管理，即使是沒有或著僅具有實驗室基...

X射線同無線電波、可見光、紫外線等一樣，本質(zhì)上都屬于電磁波，只是彼此之間占據(jù)不同的波長范圍而已。X射線的波長較短，大約在10-8～10-10cm之間。X射線分析儀器上通常使用的X射線源是X射線管，這是一種裝有陰陽極的真空封閉管，在管子兩極間加上高電壓，陰極就會發(fā)射出高速電子流撞擊金屬陽極靶，從而產(chǎn)生X射線。X射線衍射儀XRD是利用X射線在晶體物質(zhì)中的衍射效應(yīng)進行物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析的技術(shù)。每一種結(jié)晶物質(zhì)，都有其特定的晶體結(jié)構(gòu)，包括點陣類型、晶面間距等參數(shù)，用具有足夠能量的X射線照射試...